Dallo Spazio al Modello: Tecnologie innovative per il Rilievo e BIM

Abstract

Il seminario affronta il tema dello Scan-to-BIM come processo chiave per la digitalizzazione dell’ambiente costruito, analizzando le tecniche di rilievo di ultima generazione come lo SLAM (Simultaneous Localization and Mapping) e la fotogrammetria avanzata, fino all'integrazione con modelli informativi tridimensionali. Attraverso esempi pratici e casi applicativi, verrà evidenziato come il BIM non sia solo un modello geometrico, ma una base dati dinamica capace di supportare analisi energetiche, stime economiche, processi CAM e gestione digitale dell’appalto e del cantiere. Uno spazio sarà dedicato anche alla verifica e validazione dei modelli in contesti di appalto pubblico e privato, sottolineando l’importanza della qualità del dato nella filiera progettuale.